![]() Date : 2005-08-07 / 2005-08-11Atelier et Symposium 2005 de NCSL InternationalCette activité se tiendra au Washington Hilton & Towers, à Washington (DC). Axée sur les progrès de la science et de la technologie et leur impact sur la métrologie (Advances in Science and Technology - Their Impact on Metrology), cette exposition présentera les derniers produits et services à la fine pointe de la technologie dans le domaine de la métrologie. Ne manquez pas d'aller visiter le kiosque du CCN (le no 321). Pour tous les détails : http://www.ncsli.org/conference/2005/ ![]() Cette section peut contenir des liens menant à des pages ou à des documents qui n'appartiennent pas au Conseil canadien des normes (CCN) ou qui ne sont pas mis à jour par ce dernier. S'ils figurent dans ce site, c'est pour servir de source d'information autre et complémentaire. Ils ne reflètent toutefois pas nécessairement l'opinion du CCN. |